Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2013 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-3-86644-965-7 urn:nbn:de:swb:90-340391 KITopen-ID: 1000034039 |
Erschienen in | OCM 2013 - Optical Characterization of Materials - Conference Proceedings, Karlsruhe, 6. - 7. März 2013. Ed.: J. Beyerer, F. Puente León, T. Längle |
Verlag | KIT Scientific Publishing |
Seiten | 179-190 |
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