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DOI: 10.5445/IR/1000038969

Fourier Transform Infrared Spectroscopy for the Measurement of Spectral Line Profiles

Aroui, Hassen; Orphal, Johannes; Tchana, Fridolin K.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Meteorologie und Klimaforschung - Atmosphärische Spurenstoffe und Fernerkundung (IMK-ASF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-953-51-0594-7
URN: urn:nbn:de:swb:90-389691
KITopen ID: 1000038969
Erschienen in Fourier Transform - Materials Analysis. Ed.: S. M. Salih
Verlag InTech, New York
Seiten 69-102
Bemerkung zur Veröffentlichung Gefördert durch den KIT-Publikationsfonds
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