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Fourier Transform Infrared Spectroscopy for the Measurement of Spectral Line Profiles

Aroui, Hassen; Orphal, Johannes; Tchana, Fridolin K.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000038969
Originalveröffentlichung
DOI: 10.5772/36120
Dimensions
Zitationen: 2
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut für Meteorologie und Klimaforschung - Atmosphärische Spurenstoffe und Fernerkundung (IMK-ASF)
KIT-Zentrum Klima und Umwelt (ZKU)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-953-51-0594-7
urn:nbn:de:swb:90-389691
KITopen-ID: 1000038969
Erschienen in Fourier Transform - Materials Analysis. Ed.: S. M. Salih
Verlag InTech
Seiten 69-102
Bemerkung zur Veröffentlichung Gefördert durch den KIT-Publikationsfonds
Nachgewiesen in Dimensions
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