KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Fourier Transform Infrared Spectroscopy for the Measurement of Spectral Line Profiles

Aroui, Hassen; Orphal, Johannes; Tchana, Fridolin K.

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Meteorologie und Klimaforschung Atmosphärische Spurengase und Fernerkundung (IMKASF)
KIT-Zentrum Klima und Umwelt (ZKU)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-953-51-0594-7
urn:nbn:de:swb:90-389691
KITopen-ID: 1000038969
Erschienen in Fourier Transform - Materials Analysis. Ed.: S. M. Salih
Verlag InTech
Seiten 69-102
Bemerkung zur Veröffentlichung Gefördert durch den KIT-Publikationsfonds
Nachgewiesen in Dimensions

Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000038969
Originalveröffentlichung
DOI: 10.5772/36120
Dimensions
Zitationen: 8
Seitenaufrufe: 327
seit 27.04.2018
Downloads: 5655
seit 02.05.2014
Cover der Publikation
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page