| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | urn:nbn:de:swb:90-393799 KITopen-ID: 1000039379 |
| Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Chemie und Biowissenschaften (CHEM-BIO) |
| Institut | Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG) |
| Prüfungsdaten | 19.04.2013 |
| Schlagwörter | Rasterkraftmikroskopie, Nanostrukturierung, SAMs, Nanoshaving, Nanografting, MOF, Leitfähigkeit |
| Nachgewiesen in | OpenAlex |
| Referent/Betreuer | Wöll, C. |