Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG) |
Publikationstyp | Hochschulschrift |
Publikationsjahr | 2013 |
Sprache | Deutsch |
Identifikator | urn:nbn:de:swb:90-393799 KITopen-ID: 1000039379 |
Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
Art der Arbeit | Dissertation |
Fakultät | Fakultät für Chemie und Biowissenschaften (CHEM-BIO) |
Institut | Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG) |
Prüfungsdaten | 19.04.2013 |
Schlagwörter | Rasterkraftmikroskopie, Nanostrukturierung, SAMs, Nanoshaving, Nanografting, MOF, Leitfähigkeit |
Referent/Betreuer | Wöll, C. |