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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.87.115412
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Zitationen: 14

Field ion microscopy characterized tips in noncontact atomic force microscopy: Quantification of long-range force interactions

Falter, J.; Langewisch, G.; Hölscher, H.; Fuchs, H.; Schirmeisen, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121
KITopen ID: 1000040445
HGF-Programm 43.13.01; LK 01
Erschienen in Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics
Band 87
Heft 11
Seiten 115412/1-9
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