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Field ion microscopy characterized tips in noncontact atomic force microscopy: Quantification of long-range force interactions

Falter, J.; Langewisch, G.; Hölscher, H. ORCID iD icon 1; Fuchs, H. 1; Schirmeisen, A.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.87.115412
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Zitationen: 18
Web of Science
Zitationen: 18
Dimensions
Zitationen: 19
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121
KITopen-ID: 1000040445
HGF-Programm 43.13.01 (POF II, LK 01) Structuring
Erschienen in Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics
Verlag American Physical Society (APS)
Band 87
Heft 11
Seiten 115412/1-9
Nachgewiesen in Scopus
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