Field ion microscopy characterized tips in noncontact atomic force microscopy: Quantification of long-range force interactions
Falter, J.; Langewisch, G.; Hölscher, H.
1; Fuchs, H. 1; Schirmeisen, A.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Fuchs, H. 1; Schirmeisen, A.1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1098-0121 KITopen-ID: 1000040445 |
| HGF-Programm | 43.13.01 (POF II, LK 01) Structuring |
| Erschienen in | Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics |
| Verlag | American Physical Society (APS) |
| Band | 87 |
| Heft | 11 |
| Seiten | 115412/1-9 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |