| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | urn:nbn:de:swb:90-409908 KITopen-ID: 1000040990 |
| Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Physik (PHYSIK) |
| Institut | Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP) |
| Prüfungsdaten | 14.02.2014 |
| Schlagwörter | silicon sensor, radiation damage, Lorentz angle, simulation |
| Referent/Betreuer | Boer, W. de |