Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
Publikationstyp | Hochschulschrift |
Publikationsjahr | 2013 |
Sprache | Deutsch |
Identifikator | urn:nbn:de:swb:90-421805 KITopen-ID: 1000042180 |
Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
Art der Arbeit | Dissertation |
Fakultät | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT) |
Institut | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
Prüfungsdaten | 29.10.2013 |
Schlagwörter | Bildauswertung, Auffälligkeitsdetektion, Mustererkennung, Sicherheitstechnik |
Relationen in KITopen | |
Referent/Betreuer | Kroschel, K. |