| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | urn:nbn:de:swb:90-421805 KITopen-ID: 1000042180 |
| Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT) |
| Institut | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Prüfungsdaten | 29.10.2013 |
| Schlagwörter | Bildauswertung, Auffälligkeitsdetektion, Mustererkennung, Sicherheitstechnik |
| Nachgewiesen in | OpenAlex |
| Relationen in KITopen | |
| Referent/Betreuer | Kroschel, K. |