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Thermal Management for Dependable On-Chip Systems

Ebi, Thomas

Abstract:

This thesis addresses the dependability issues in on-chip systems from a thermal perspective. This includes an explanation and analysis of models to show the relationship between dependability and tempature. Additionally, multiple novel methods for on-chip thermal management are introduced aiming to optimize thermal properties. Analysis of the methods is done through simulation and through infrared thermal camera measurements.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000048029
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-480296
KITopen-ID: 1000048029
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Institut für Technische Informatik (ITEC)
Prüfungsdaten 08.07.2014
Schlagwörter Thermal Management, Dependability, Multi-core, Microarchitecture, Agents
Referent/Betreuer Henkel, J.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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