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Calibration of quartz tuning fork spring constants for non-contact atomic force microscopy: Direct mechanical measurements and simulations

Falter, J.; Stiefermann, M.; Langewisch, G.; Schurig, P.; Hölscher, H.; Fuchs, H.; Schirmeisen, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.3762/bjnano.5.59
ISSN: 2190-4286
KITopen ID: 1000049227
HGF-Programm 43.13.01; LK 01
Erschienen in Beilstein Journal of Nanotechnology
Band 5
Heft 1
Seiten 507-516
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