Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Nanotechnologie (INT) |
Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
Publikationsjahr | 2014 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISSN: 2190-4286 urn:nbn:de:swb:90-492279 KITopen-ID: 1000049227 |
HGF-Programm | 43.13.01 (POF II, LK 01) Structuring |
Erschienen in | Beilstein journal of nanotechnology |
Verlag | Beilstein-Institut |
Band | 5 |
Heft | 1 |
Seiten | 507-516 |
Schlagwörter | atomic force microscopy, calibration, instrumentation |
Nachgewiesen in | Scopus Web of Science Dimensions |