| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2190-4286 urn:nbn:de:swb:90-492279 KITopen-ID: 1000049227 |
| HGF-Programm | 43.13.01 (POF II, LK 01) Structuring |
| Erschienen in | Beilstein journal of nanotechnology |
| Verlag | Beilstein-Institut |
| Band | 5 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 507-516 |
| Schlagwörter | atomic force microscopy, calibration, instrumentation |
| Nachgewiesen in | Scopus OpenAlex Web of Science Dimensions |