KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Cross-layer Soft Error Analysis and Mitigation at Nanoscale Technologies

Ebrahimi, Mojtaba

Abstract:
This thesis addresses the challenge of soft error modeling and mitigation in nansoscale technology nodes and pushes the state-of-the-art forward by proposing novel modeling, analyze and mitigation techniques. The proposed soft error sensitivity analysis platform accurately models both error generation and propagation starting from a technology dependent device level simulations all the way to workload dependent application level analysis.

Open Access Logo


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000053737
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-537376
KITopen-ID: 1000053737
Verlag KIT, Karlsruhe
Umfang I-V, 107 S.
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Institut für Technische Informatik (ITEC)
Prüfungsdaten 11.02.2016
Referent/Betreuer Prof. M. B. Tahoori
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page