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Cross-layer Soft Error Analysis and Mitigation at Nanoscale Technologies

Ebrahimi, Mojtaba

Abstract:
This thesis addresses the challenge of soft error modeling and mitigation in nansoscale technology nodes and pushes the state-of-the-art forward by proposing novel modeling, analyze and mitigation techniques. The proposed soft error sensitivity analysis platform accurately models both error generation and propagation starting from a technology dependent device level simulations all the way to workload dependent application level analysis.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI(KIT): 10.5445/IR/1000053737
URN: urn:nbn:de:swb:90-537376
KITopen ID: 1000053737
Verlag Karlsruhe
Umfang I-V, 107 S.
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Institut für Technische Informatik (ITEC)
Prüfungsdaten 11.02.2016
Referent/Betreuer Prof. M. B. Tahoori
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