Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2015 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-3-7315-0318-7 KITopen-ID: 1000057100 |
Erschienen in | OCM 2015 - 2nd International Conference on Optical Characterization of Materials, March 18th - 19th, 2015, Karlsruhe, Germany. Ed.: J. Beyerer |
Verlag | KIT Scientific Publishing |
Seiten | 205-214 |
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