OCM 2015 - 2nd International Conference on Optical Characterization of Materials, March 18th – 19th, 2015, Karlsruhe, Germany : Conference Proceedings
Beyerer, Jürgen [Hrsg.]; Puente León, Fernando [Hrsg.]; Längle, Thomas [Hrsg.]
Abstract:
Each material has its own specific spectral signature independent if it is food, plastics, or minerals. During the conference we will discuss new trends and developments in material characterization. You also will be informed about latest highlights to identify spectral footprints and their realizations in industry.
Die gedruckte Version dieser Publikation können Sie hier kaufen.
Zugehörige Institution(en) am KIT
Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA) Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) Fakultät für Informatik – Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR)