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OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings

Beyerer, Jürgen [Hrsg.]; Puente León, Fernando [Hrsg.]; Längle, Thomas [Hrsg.]

Abstract:
Each material has its own specific spectral signature independent if it is food, plastics, or minerals. During the conference we will discuss new trends and developments in material characterization. You also will be informed about latest highlights to identify spectral footprints and their realizations in industry.

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Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000044906
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR)
Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsband
Jahr 2015
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0318-7
urn:nbn:de:0072-449061
KITopen-ID: 1000044906
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Umfang VII, 279 S.
Schlagworte Materialerkennung, Messdatenverarbeitung, Spektral, Schüttgutsortierung, KCM, Waste and Plastic Recycling, Spectral Data Processing, Food Inspection, Material Signatur
Relationen in KITopen
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