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OCM 2015 - 2nd International Conference on Optical Characterization of Materials, March 18th – 19th, 2015, Karlsruhe, Germany : Conference Proceedings

Beyerer, Jürgen [Hrsg.]; Puente León, Fernando [Hrsg.]; Längle, Thomas [Hrsg.]

Abstract:

Each material has its own specific spectral signature independent if it is food, plastics, or minerals. During the conference we will discuss new trends and developments in material characterization. You also will be informed about latest highlights to identify spectral footprints and their realizations in industry.


Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000044906
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA)
Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Fakultät für Informatik – Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR)
Publikationstyp Proceedingsband
Publikationsjahr 2015
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0318-7
urn:nbn:de:0072-449061
KITopen-ID: 1000044906
Verlag KIT Scientific Publishing
Umfang VII, 279 S.
Schlagwörter Materialerkennung, Messdatenverarbeitung, Spektral, Schüttgutsortierung, KCM, Waste and Plastic Recycling, Spectral Data Processing, Food Inspection, Material Signatur
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