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Towards many-class classification of materials based on their spectral fingerprints

Richter, Matthias; Beyerer, Jürgen

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Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000082544
Veröffentlicht am 03.05.2018
Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0318-7
urn:nbn:de:swb:90-825443
KITopen-ID: 1000082544
Erschienen in OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings. Hrsg.: J. Beyerer, F. Puente León, T. Längle
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Seiten 103-112
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