| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-7315-0318-7 urn:nbn:de:swb:90-825550 KITopen-ID: 1000082555 |
| Erschienen in | OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings. Hrsg.: J. Beyerer, F. Puente León, T. Längle |
| Verlag | KIT Scientific Publishing |
| Seiten | 205-2014 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex |
| Relationen in KITopen |