Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2015 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-3-7315-0318-7 urn:nbn:de:swb:90-825550 KITopen-ID: 1000082555 |
Erschienen in | OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings. Hrsg.: J. Beyerer, F. Puente León, T. Längle |
Verlag | KIT Scientific Publishing |
Seiten | 205-2014 |
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