From measurement to material – Preparing hyperspectral signatures for classification
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-7315-0318-7 urn:nbn:de:swb:90-825540 KITopen-ID: 1000082554 |
| Erschienen in | OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings. Hrsg.: J. Beyerer, F. Puente León, T. Längle |
| Verlag | KIT Scientific Publishing |
| Seiten | 137-145 |
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