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Verlagsausgabe
DOI: 10.5445/IR/1000082554
Veröffentlicht am 04.05.2018

From measurement to material – Preparing hyperspectral signatures for classification

Walocha, Jennifer; Richter, Matthias



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0318-7
URN: urn:nbn:de:swb:90-825540
KITopen ID: 1000082554
Erschienen in OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings. Hrsg.: J. Beyerer, F. Puente León, T. Längle
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Seiten 137-145
URLs Gesamtwerk
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