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Development and Characterization of Adjustable Refractive Index Scattering Epoxy Acrylate Polymer Layers

Thomas Eiselt; Jan Preinfalk; Uwe Gleißner; Ulrich Lemmer; Thomas Hanemann


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000063354
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Poster
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-633548
KITopen-ID: 1000063354
HGF-Programm 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems
Veranstaltung IMTEK Research Day, 08.12.2016, Freiburg
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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