Infrared spectral imaging for damage detection and prevention of overhead power lines
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Jahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-7315-0612-6 urn:nbn:de:swb:90-682012 KITopen-ID: 1000068201 |
| Erschienen in | OCM 2017 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings. Hrsg.: J. Beyerer, F. Puente León, T. Längle |
| Verlag | KIT Scientific Publishing, Karlsruhe |
| Seiten | 159-168 |
| Relationen in KITopen |