Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Jahr | 2017 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-3-7315-0612-6 urn:nbn:de:swb:90-682012 KITopen-ID: 1000068201 |
Erschienen in | OCM 2017 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings. Hrsg.: J. Beyerer, F. Puente León, T. Längle |
Verlag | KIT Scientific Publishing, Karlsruhe |
Seiten | 159-168 |
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