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OCM 2017 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings

Beyerer, Jürgen [Hrsg.]; Puente León, Fernando [Hrsg.]; Längle, Thomas [Hrsg.]



Abstract (englisch): Each material has its own specific spectral signature independent if it is food, plastics, or minerals. During the conference we will discuss new trends and developments in material characterization. You also will be informed about latest highlights to identify spectral footprints and their realizations in industry.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR)
Institut für Anthropomatik (IFA)
Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsband
Jahr 2017
Sprache Deutsch
Identifikator DOI: 10.5445/KSP/1000063696
ISBN: 978-3-7315-0612-6
URN: urn:nbn:de:0072-636962
KITopen ID: 1000063696
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Umfang VII,231 S.
Lizenz CC BY-SA 3.0 DE: Creative Commons Namensnennung – Weitergabe unter gleichen Bedingungen 3.0 Deutschland
Schlagworte Materialerkennung, Messdatenverarbeitung, Spektral, Schüttgutsortierung, KCM Waste and Plastic Recycling, Spectral Data Processing, Food Inspection, Material Signatur
Bestellung Die Veröffentlichung ist bei KIT Scientific Publishing erschienen.
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