KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

OCM 2017 - 3rd International Conference on Optical Characterization of Materials, March 22nd – 23rd, 2017, Karlsruhe, Germany : Conference Proceedings

Beyerer, Jürgen [Hrsg.]; Puente León, Fernando [Hrsg.]; Längle, Thomas [Hrsg.]

Abstract (englisch):

Each material has its own specific spectral signature independent if it is food, plastics, or minerals. During the conference we will discuss new trends and developments in material characterization. You also will be informed about latest highlights to identify spectral footprints and their realizations in industry.

Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA)
Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Fakultät für Informatik – Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR)
Publikationstyp Proceedingsband
Publikationsjahr 2017
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0612-6
urn:nbn:de:0072-636962
KITopen-ID: 1000063696
Verlag KIT Scientific Publishing
Umfang VII,231 S.
Schlagwörter Materialerkennung, Messdatenverarbeitung, Spektral, Schüttgutsortierung, KCM, Waste and Plastic Recycling, Spectral Data Processing, Food Inspection, Material Signatur
Relationen in KITopen

Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000063696
Seitenaufrufe: 603
seit 25.04.2018
Downloads: 1479
seit 24.03.2017
Die gedruckte Version dieser Publikation können Sie hier kaufen.
Cover der Publikation
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page