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Optical measurement of material abundances in mixtures incorporating preprocessing to mitigate spectral variability

Krippner, Wolfgang; Bauer, Sebastian; Puente León, Fernando


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000068198
Veröffentlicht am 04.05.2018
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0612-6
urn:nbn:de:swb:90-681980
KITopen-ID: 1000068198
Erschienen in OCM 2017 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings. Hrsg.: J. Beyerer
Verlag KIT Scientific Publishing
Seiten 89-98
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