Optical measurement of material abundances in mixtures incorporating preprocessing to mitigate spectral variability

Krippner, Wolfgang; Bauer, Sebastian; Puente León, Fernando

Verlagsausgabe

DOI: 10.5445/IR/1000068198

Veröffentlicht am 04.05.2018

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2017
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-3-7315-0612-6 urn:nbn:de:swb:90-681980 KITopen-ID: 1000068198
Erschienen in	OCM 2017 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings. Hrsg.: J. Beyerer
Verlag	KIT Scientific Publishing
Seiten	89-98
Relationen in KITopen	Ist enthalten in OCM 2017 - 3rd International Conference on Optical Characterization of Materials, March 22nd – 23rd, 2017, Karlsruhe, Germany : Conference Proceedings. Beyerer, Jürgen; Puente León, Fernando; Längle, Thomas (2017) Proceedingsband (1000063696) Verweist auf Entwurfsverfahren für optische Spektralfilter zur Materialanteilsschätzung. Krippner, Wolfgang; Heizmann, M. (2021) Hochschulschrift (1000128228)