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Optical measurement of material abundances in mixtures incorporating preprocessing to mitigate spectral variability

Krippner, Wolfgang; Bauer, Sebastian; Puente Le´on, Fernando



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator URN: urn:nbn:de:swb:90-681980
KITopen ID: 1000068198
Erschienen in OCM 2017 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Seiten 89-98
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