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Neues diodenlasergeschütztes Verfahren zur In-situ-Bestimmung der Verweilzeitverteilung von Produktgasen in Hochtemperaturprozessen

Kolb, T.; Ebert, V.; Schlosser, E.; Oser, B.; Wolfrum, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Engler-Bunte-Institut (EBI)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2005
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 1000069855
Erschienen in 22. Deutscher Flammentag, Braunschweig, 21.-22.09.2005
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