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Beiträge zur Optimierung der Offsetkorrektion bei der taktilen Erfassung von Freiformflächen

Naab, Christoph

Abstract:

Für die taktile Antastung von Objektgeometrien werden unterschiedliche Messsysteme wie Lasertracker, Gelenkmessarme, kartesische Koordinatenmessgeräte, Tachymeter, sowie Photogrammetrie- und Lichtfächersysteme verwendet. Aufgrund ihrer spezifischen Eigenschaften, insbesondere in Bezug auf die Tastkörper, wirken verschiedene Störeinflüsse auf die Lage des Messpunktes. Da zur Bestimmung der Objektoberfläche für jeden gemessenen Wert eine Offsetkorrektion längs einer repräsentativen Normalrichtung durchzuführen ist, kommt ebenfalls der Bestimmung der Normalenrichtung eine besondere Bedeutung zu. ... mehr

Abstract (englisch):

In the process of tactile measuring of object geometries several measuring systems like laser trackers, articulated measuring arms, Cartesian coordinate measuring machines, tachymeters, as well as photogrammetric and fan-shaped light systems are used. Due to their specific characteristics, especially with regard to their tactile measuring equipment, various influences affect the position of a measurement point. As for the determination of the true surface of the object, for each measured point an offset compensation has to be applied, a special emphasis has been placed on the determination of the representative normal direction. ... mehr


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000071109
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Geodätisches Institut (GIK)
KIT-Zentrum Klima und Umwelt (ZKU)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2016
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-711095
KITopen-ID: 1000071109
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang VII, 190 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Bauingenieur-, Geo- und Umweltwissenschaften (BGU)
Institut Geodätisches Institut (GIK)
Prüfungsdatum 30.06.2016
Schlagwörter Industrievermessung; LVM; Taktile Messtechnik; Koordinatenmesstechnik; Lasertracker; Gelenkmessarm; KMG; Tachymeter; Kugelreflektor; SMR; CCR; Taster; Prismen; Adapter; Gestaltabweichung; Offsetkorrektion; Normalenrichtung; Messunsicherheit; Vermaschung; Modellierung; Freiformfläche; Freiformkurve; Bézier; B-Spline; NURBS; Parallelgeometrie; Offsetgeometrie;
Referent/Betreuer Hennes, M.
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