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A robust AFM-based method for locally measuring the elasticity of samples

Bubendorf, Alexandre; Walheim, Stefan; Schimmel, Thomas; Meyer, Ernst

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Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000079243
Veröffentlicht am 22.01.2018
Originalveröffentlichung
DOI: 10.3762/bjnano.9.1
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Zitationen: 2
Web of Science
Zitationen: 2
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seit 23.05.2018
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seit 24.01.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2190-4286
urn:nbn:de:swb:90-792435
KITopen-ID: 1000079243
HGF-Programm 43.22.03 (POF III, LK 01)
Erschienen in Beilstein journal of nanotechnology
Band 9
Heft 1
Seiten 1-10
Vorab online veröffentlicht am 02.01.2018
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
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