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Verlagsausgabe
DOI: 10.5445/IR/1000079243

A robust AFM-based method for locally measuring the elasticity of samples

Bubendorf, Alexandre; Walheim, Stefan; Schimmel, Thomas; Meyer, Ernst



Zugehörige Institution(en) am KIT Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2190-4286
URN: urn:nbn:de:swb:90-792435
KITopen ID: 1000079243
Erschienen in Beilstein journal of nanotechnology
Band 9
Heft 1
Seiten 1-10
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