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Originalveröffentlichung
DOI: 10.18429/JACoW-IPAC2018-WEPMG006

Experimental Setup to Characterize the Radiation Hardness of Cryogenic Bypass Diodes for the HL-LHC Inner Triplet Circuits

Will, A.; Bernhard, A.; D’Angelo, G.; Denz, R.; Favre, M.; Hagedorn, D.; Kirby, G.; Koettig, T.; Monteuuis, A.; Mueller, A. -S.; Rodriguez-Mateos, F.; Siemko, A.; Stachon, K.; Valette, M.; Vammen Kistrup, L.; Verweij, A.; Wollmann, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Beschleunigerphysik und Technologie (IBPT)
Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-9545018-4-7
KITopen ID: 1000088022
HGF-Programm 54.01.01; LK 01
Erschienen in 9th International Particle Accelerator Conference (IPAC’18), Vancouver, BC, Canada, April 29-May 4, 2018: proceedings
Verlag JACoW Publishing, Geneva, Switzerland
Seiten 2620–2623
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