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Originalveröffentlichung
DOI: 10.3850/978-981-11-2728-1_58

Digital Detection and Correction of Errors in As-built Parts: a Step Towards Automated Quality Control of Additive Manufacturing

Elkaseer, Ahmed; Mueller, Tobias; Charles, Amal; Scholz, Steffen



Zugehörige Institution(en) am KIT Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-9811127281
KITopen-ID: 1000088693
HGF-Programm 43.22.03 (POF III, LK 01)
Erschienen in World Congress on Micro and Nano Manufacturing. Ed.: J. Valentincic
Veranstaltung World Congress on Micro and Nano Manufacturing (WCMNM 2018 2018), Portorož, Slowenien, 17.09.2018 – 20.09.2018
Verlag Research Publishing Services, Singapore
Seiten 389–392
Relationen in KITopen
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