Digital Detection and Correction of Errors in As-built Parts: a Step Towards Automated Quality Control of Additive Manufacturing
Elkaseer, Ahmed; Mueller, Tobias
; Charles, A. P.
; Scholz, Steffen
; Charles, A. P.
; Scholz, Steffen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI) Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-9811127281 KITopen-ID: 1000088693 |
| HGF-Programm | 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems |
| Erschienen in | World Congress on Micro and Nano Manufacturing. Ed.: J. Valentincic |
| Veranstaltung | World Congress on Micro and Nano Manufacturing (WCMNM 2018 2018), Portorož, Slowenien, 17.09.2018 – 20.09.2018 |
| Verlag | Research Publishing |
| Seiten | 389–392 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |
| Relationen in KITopen |