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Digital Detection and Correction of Errors in As-built Parts: a Step Towards Automated Quality Control of Additive Manufacturing

Elkaseer, Ahmed; Mueller, Tobias ORCID iD icon; Charles, A. P. ORCID iD icon; Scholz, Steffen ORCID iD icon


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000088695
HGF-Programm 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems
Veranstaltung World Congress on Micro and Nano Manufacturing (WCMNM 2018 2018), Portorož, Slowenien, 17.09.2018 – 20.09.2018
Relationen in KITopen
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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