Digital Detection and Correction of Errors in As-built Parts: a Step Towards Automated Quality Control of Additive Manufacturing
Elkaseer, Ahmed; Mueller, Tobias
; Charles, A. P.
; Scholz, Steffen
; Charles, A. P.
; Scholz, Steffen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI) Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000088695 |
| HGF-Programm | 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems |
| Veranstaltung | World Congress on Micro and Nano Manufacturing (WCMNM 2018 2018), Portorož, Slowenien, 17.09.2018 – 20.09.2018 |
| Relationen in KITopen |