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Wahrnehmungsgrenzen kleiner Verformungen auf spiegelnden Oberflächen

Ziebarth, Mathias

Abstract:

Es werden zwei Modelle entwickelt und evaluiert, die Wahrnehmungsgrenzen kleiner Formabweichungen auf spiegelnden Oberflächen beschreiben. Beide Modelle berücksichtigen die gespiegelte Umgebung und führen die Wahrnehmungsgrenzen auf die Winkelauflösung des menschlichen Auges zurück. Ein weiteres Ziel dieser Arbeit ist die Erweiterung der Modelle auf Oberflächenrauheiten und -welligkeiten. Die vorhergesagten Wahrnehmungsgrenzen werden mit den Daten zweier Wahrnehmungsstudien verglichen.

Abstract (englisch):

Two models are developed and evaluated, which describe perception limits of small form deviations on specular reflecting surfaces. Both models take into account the reflected environment and attribute the limits of perception to the angular resolution of the human eye. A further goal of this work is the extension of the models to surface roughness and waviness. The predicted perception limits are compared with the data of two perception studies.


Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000090271
Veröffentlicht am 05.06.2019
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme (Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2019
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0890-8
ISSN: 1866-5934
urn:nbn:de:0072-902712
KITopen-ID: 1000090271
Verlag KIT Scientific Publishing
Umfang XIV, 244 S.
Serie Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung ; 14
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Fakultät für Informatik – Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme (Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme)
Prüfungsdatum 22.10.2018
Schlagwörter Deflektometrie, automatische Sichtprüfung, menschliche Wahrnehmung, spiegelnde Oberflächen, maschinelles Sehen, deflectometry, automated visual inspection, human perception, specular surfaces, machine vision
Referent/Betreuer Beyerer, J.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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