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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/CEIDP.2018.8544800

Dielectric Frequency Measurement of Semiconductive Layers in Xlpe Cables

Maier, Tobias; Schmehl, Kevin; Leibfried, Thomas



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-6192-5
KITopen-ID: 1000090820
Erschienen in 2018 IEEE CEIDP: IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena. Proceedings.
Veranstaltung Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP 2018), Cancún, Mexiko, 21.10.2018 – 24.10.2018
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Seiten 70-73
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