Dielectric Frequency Measurement of Semiconductive Layers in Xlpe Cables
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5386-6192-5 KITopen-ID: 1000090820 |
| Erschienen in | 2018 IEEE CEIDP: IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena. Proceedings. |
| Veranstaltung | Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP 2018), Cancún, Mexiko, 21.10.2018 – 24.10.2018 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 70-73 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |