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Quasi non-diffractive electron Bessel beams using direct phase masks with applications in electron microscopy

Hettler, Simon; Grünewald, Lukas; Malac, Marek

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Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000090914
Veröffentlicht am 08.04.2019
Seitenaufrufe: 11
seit 22.02.2019
Downloads: 5
seit 10.04.2019
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1367-2630
urn:nbn:de:swb:90-909142
KITopen-ID: 1000090914
Erschienen in New journal of physics
Band 21
Seiten Article no: 033007
Bemerkung zur Veröffentlichung Gefördert durch den KIT-Publikationsfonds
Vorab online veröffentlicht am 01.02.2019
Nachgewiesen in Web of Science
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