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Quasi non-diffractive electron Bessel beams using direct phase masks with applications in electron microscopy

Hettler, Simon 1; Grünewald, Lukas ORCID iD icon 1; Malac, Marek
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000090914
Veröffentlicht am 08.04.2019
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1367-2630/ab03da
Scopus
Zitationen: 7
Web of Science
Zitationen: 6
Dimensions
Zitationen: 8
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1367-2630
urn:nbn:de:swb:90-909142
KITopen-ID: 1000090914
Erschienen in New journal of physics
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 21
Seiten Article no: 033007
Bemerkung zur Veröffentlichung Gefördert durch den KIT-Publikationsfonds
Vorab online veröffentlicht am 01.02.2019
Nachgewiesen in Dimensions
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