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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1367-2630/ab03da

Quasi non-diffractive electron Bessel beams using direct phase masks with applications in electron microscopy [in press]

Hettler, Simon; Grünewald, Lukas; Malac, Marek



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1367-2630
KITopen-ID: 1000090914
Erschienen in New journal of physics
Bemerkung zur Veröffentlichung Gefördert durch den KIT-Publikationsfonds
Vorab online veröffentlicht am 01.02.2019
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