Quasi non-diffractive electron Bessel beams using direct phase masks with applications in electron microscopy

Hettler, Simon ¹; Grünewald, Lukas

¹; Malac, Marek
¹ Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Verlagsausgabe

DOI: 10.5445/IR/1000090914

Veröffentlicht am 08.04.2019

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1367-2630/ab03da

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2019
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 1367-2630 urn:nbn:de:swb:90-909142 KITopen-ID: 1000090914
Erschienen in	New journal of physics
Verlag	Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band	21
Seiten	Article no: 033007
Bemerkung zur Veröffentlichung	Gefördert durch den KIT-Publikationsfonds
Vorab online veröffentlicht am	01.02.2019
Nachgewiesen in	Scopus Dimensions Web of Science