Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme (Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme) |
Publikationstyp | Hochschulschrift |
Publikationsjahr | 2019 |
Sprache | Deutsch |
Identifikator | ISBN: 978-3-7315-0907-3 ISSN: 1866-5934 urn:nbn:de:0072-918026 KITopen-ID: 1000091802 |
Verlag | KIT Scientific Publishing |
Umfang | XVI, 208 S. |
Serie | Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung ; 16 |
Art der Arbeit | Dissertation |
Fakultät | Fakultät für Informatik (INFORMATIK) |
Institut | Fakultät für Informatik – Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme (Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme) |
Prüfungsdatum | 19.11.2018 |
Schlagwörter | Deflektometrie, Sensoreinsatzplanung, Gauß-Prozess, spiegelnde Oberflächen, Inspektion,, deflectometry, sensor planning, gaussian process, specular surfaces, inspection |
Referent/Betreuer | Beyerer, J. |