Preface

Beyerer, Jürgen; Puente Léon, Fernando; Längle, Thomas

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR) Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2019
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-3-7315-0864-9 urn:nbn:de:swb:90-923209 KITopen-ID: 1000092320
Erschienen in	OCM 2019 - Optical Characterization of Materials : Conference Proceedings. Ed.: J. Beyerer; F. Puente León, T. Längle
Verlag	KIT Scientific Publishing
Seiten	i-ii
Relationen in KITopen	Ist enthalten in OCM 2019 - 4th International Conference on Optical Characterization of Materials, March 13th – 14th, 2019, Karlsruhe, Germany : Conference Proceedings. Beyerer, Jürgen; Puente León, Fernando; Längle, Thomas (2019) Proceedingsband (1000087509)

Verlagsausgabe

DOI: 10.5445/IR/1000092320

Veröffentlicht am 18.03.2019

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