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Preface

Beyerer, Jürgen; Puente Léon, Fernando; Längle, Thomas

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Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000092320
Veröffentlicht am 18.03.2019
Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0864-9
urn:nbn:de:swb:90-923209
KITopen-ID: 1000092320
Erschienen in OCM 2019 - Optical Characterization of Materials : Conference Proceedings. Ed.: J. Beyerer; F. Puente León, T. Längle
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Seiten i-ii
Relationen in KITopen
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