KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Preface

Beyerer, Jürgen; Puente Léon, Fernando; Längle, Thomas


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000092320
Veröffentlicht am 18.03.2019
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0864-9
urn:nbn:de:swb:90-923209
KITopen-ID: 1000092320
Erschienen in OCM 2019 - Optical Characterization of Materials : Conference Proceedings. Ed.: J. Beyerer; F. Puente León, T. Längle
Verlag KIT Scientific Publishing
Seiten i-ii
Relationen in KITopen
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page