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OCM 2019 - Optical Characterization of Materials : Conference Proceedings

Beyerer, Jürgen [Hrsg.]; Puente León, Fernando [Hrsg.]; Längle, Thomas [Hrsg.]

Abstract (englisch):
Each material has its own specific spectral signature independent if it is food, plastics, or minerals. During the conference we will discuss new trends and developments in material characterization. You also will be informed about latest highlights to identify spectral footprints and their realizations in industry.

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Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/KSP/1000087509
Veröffentlicht am 15.03.2019
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Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR)
Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsband
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0864-9
urn:nbn:de:0072-875094
KITopen-ID: 1000087509
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Umfang VI, 119 S.
Schlagworte Lebensmittelkontrolle, Spektralsensoren, Spektraldatenverarbeitung; Spektralanwendungen, Recycling, food inspection, spectral sensors, spectral data processing, spectral applications, recycling and environment
Relationen in KITopen
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