Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2019 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-3-7315-0864-9 urn:nbn:de:swb:90-923194 KITopen-ID: 1000092319 |
Erschienen in | OCM 2019 - Optical Characterization of Materials : Conference Proceedings. Ed.: J. Beyerer; F. Puente León, T. Längle |
Verlag | KIT Scientific Publishing |
Seiten | 35-44 |
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