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Maier, Georg; Murdter, Nico; Gruna, Robin; Langle, Thomas; Beyerer, Jurgen



Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/KSP/1000087509
Veröffentlicht am 15.03.2019
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0864-9
KITopen-ID: 1000120454
Erschienen in OCM 2019 : 4th International Conference on Optical Characterization of Materials : March 13th - 14th, 2019 : Karlsruhe, Germany / edited by Jürgen Beyerer, Fernando Puente Léon, Thomas Längle
Veranstaltung 4th International Conference on Optical Characterization of Materials (2019), Karlsruhe, Deutschland, 13.03.2019 – 14.03.2019
Verlag KIT Scientific Publishing
Seiten 87-97
Externe Relationen Siehe auch
Relationen in KITopen
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