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A Layered Reference Architecture for Metamodels to Tailor Quality Modeling and Analysis [in press]

Heinrich, Robert; Strittmatter, Misha; Reussner, Ralf H.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TSE.2019.2903797
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Zitationen: 2
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Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Kompetenzzentrum für angewandte Sicherheitstechnologie (KASTEL)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0098-5589, 1939-3520, 2326-3881
KITopen-ID: 1000096070
Erschienen in IEEE transactions on software engineering
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Nachgewiesen in Dimensions
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