A Layered Reference Architecture for Metamodels to Tailor Quality Modeling and Analysis [in press]
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Kompetenzzentrum für angewandte Sicherheitstechnologie (KASTEL) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0098-5589, 1939-3520, 2326-3881 KITopen-ID: 1000096070 |
| Erschienen in | IEEE transactions on software engineering |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |