A Layered Reference Architecture for Metamodels to Tailor Quality Modeling and Analysis
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Kompetenzzentrum für angewandte Sicherheitstechnologie (KASTEL) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 01.04.2021 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0098-5589, 1939-3520, 2326-3881 KITopen-ID: 1000096070 |
| Erschienen in | IEEE transactions on software engineering |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 47 |
| Heft | 4 |
| Seiten | 775-800 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |