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Modeling the Interdependences between Voltage Fluctuation and BTI Aging

Salamin, Sami; Van Santen, Victor M.; Amrouch, Hussam; Parihar, N.; Mahapatra, S.; Henkel, Jörg



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TVLSI.2019.2899890
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1063-8210, 1557-9999
KITopen-ID: 1000096491
Erschienen in IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
Band 27
Heft 7
Seiten 1652-1665
Vorab online veröffentlicht am 12.03.2019
Nachgewiesen in Scopus
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