High-resolution interference microscopy with spectral resolution for the characterization of individual particles and self-assembled meta-atoms
Symeonidis, Michail; Suryadharma, Radius N. S. 1; Grillo, Rossella; Vetter, Andreas 2; Rockstuhl, Carsten
1; Bürgi, Thomas; Scharf, Toralf
1 Institut für Theoretische Festkörperphysik (TFP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Bürgi, Thomas; Scharf, Toralf1 Institut für Theoretische Festkörperphysik (TFP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) Institut für Theoretische Festkörperphysik (TFP) Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen) Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 07.2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1094-4087 KITopen-ID: 1000097181 |
| HGF-Programm | 43.23.01 (POF III, LK 01) Advanced Optical Lithography+Microscopy |
| Erschienen in | Optics express |
| Verlag | Optica Publishing Group (OSA) |
| Band | 27 |
| Heft | 15 |
| Seiten | 20990-21003 |
| Vorab online veröffentlicht am | 12.07.2019 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |
| Relationen in KITopen |