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High-resolution interference microscopy with spectral resolution for the characterization of individual particles and self-assembled meta-atoms

Symeonidis, Michail; Suryadharma, Radius N. S. 1; Grillo, Rossella; Vetter, Andreas 2; Rockstuhl, Carsten 1; Bürgi, Thomas; Scharf, Toralf
1 Institut für Theoretische Festkörperphysik (TFP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/OE.27.020990
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Institut für Theoretische Festkörperphysik (TFP)
Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen)
Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 07.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1094-4087
KITopen-ID: 1000097181
HGF-Programm 43.23.01 (POF III, LK 01) Advanced Optical Lithography+Microscopy
Erschienen in Optics express
Verlag Optica Publishing Group (OSA)
Band 27
Heft 15
Seiten 20990-21003
Vorab online veröffentlicht am 12.07.2019
Nachgewiesen in Dimensions
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