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High-resolution interference microscopy with spectral resolution for the characterization of individual particles and self-assembled meta-atoms

Symeonidis, Michail; Suryadharma, Radius N. S.; Grillo, Rossella; Vetter, Andreas; Rockstuhl, Carsten; Bürgi, Thomas; Scharf, Toralf

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/OE.27.020990
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Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Theoretische Festkörperphysik (TFP)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 07.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1094-4087
KITopen-ID: 1000097181
HGF-Programm 43.23.01 (POF III, LK 01)
Advanced Optical Lithography+Microscopy
Erschienen in Optics express
Band 27
Heft 15
Seiten 20990-21003
Vorab online veröffentlicht am 12.07.2019
Nachgewiesen in Web of Science
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