Single-shot longitudinal beam profile and terahertz diagnostics at MHz- Towards GHz-rates with high-throughput electronics
Caselle, M.; Rota, L.; Balzer, M.; Brosi, M.; Funkner, S.; Kehrer, B.; Nasse, M. J.; Niehues, G.; Patil, M.
; Schönfeldt, P.; Schuh, M.
; Steinmann, J. L.
; Yan, M.; Bründermann, E.
; Weber, M.; Müller, A.-S.
; Borghi, G.; Boscardin, M.; Ronchin, S.
; Schönfeldt, P.; Schuh, M.
; Steinmann, J. L.
; Yan, M.; Bründermann, E.
; Weber, M.; Müller, A.-S.
; Borghi, G.; Boscardin, M.; Ronchin, S.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Beschleunigerphysik und Technologie (IBPT) Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000098940 |
| HGF-Programm | 54.02.02 (POF III, LK 01) Ultraschnelle Datenauswertung |
| Weitere HGF-Programme | 54.01.01 (POF III, LK 01) ps- und fs-Strahlen |
| Veranstaltung | 6th International Beam Instrumentation Conference (IBIC 2017), Grand Rapids, MI, USA, 20.08.2017 – 24.08.2017 |
| Projektinformation | 05K2016- NeoDyn; TP: uFast (BMBF, 05K16VKA) |
| Relationen in KITopen |