KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Single-shot longitudinal beam profile and terahertz diagnostics at MHz- Towards GHz-rates with high-throughput electronics

Caselle, M.; Rota, L.; Balzer, M.; Brosi, M.; Funkner, S.; Kehrer, B.; Nasse, M. J.; Niehues, G.; Patil, M.; Schönfeldt, P.; Schuh, M.; Steinmann, J. L.; Yan, M.; Bründermann, E.; Weber, M.; Müller, A.-S.; Borghi, G.; Boscardin, M.; Ronchin, S.

Open Access Logo


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000098940
Veröffentlicht am 14.10.2019
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Institut für Beschleunigerphysik und Technologie (IBPT)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000098940
HGF-Programm 54.02.02 (POF III, LK 01)
Ultraschnelle Datenauswertung
Veranstaltung 6th International Beam Instrumentation Conference (IBIC 2017), Grand Rapids, MI, USA, 20.08.2017 – 24.08.2017
Projektinformation 05K2016- NeoDyn; TP: uFast (BMBF, 05K16VKA)
Relationen in KITopen
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page