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Single-shot longitudinal beam profile and terahertz diagnostics at MHz- Towards GHz-rates with high-throughput electronics

Caselle, M.; Rota, L.; Balzer, M.; Brosi, M.; Funkner, S.; Kehrer, B.; Nasse, M. J.; Niehues, G.; Patil, M.; Schönfeldt, P.; Schuh, M.; Steinmann, J. L.; Yan, M.; Bründermann, E.; Weber, M.; Müller, A.-S.; Borghi, G.; Boscardin, M.; Ronchin, S.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000098940
Veröffentlicht am 14.10.2019
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Institut für Beschleunigerphysik und Technologie (IBPT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000098940
Veranstaltung 6th International Beam Instrumentation Conference (IBIC 2017), Grand Rapids, MI, USA, 20.08.2017 – 24.08.2017
Relationen in KITopen
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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