Application of a modern scanning electron microscope for materials characterization
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000100797 |
| Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
| Umfang | 174 S. |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Physik (PHYSIK) |
| Institut | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) |
| Prüfungsdatum | 18.10.2019 |
| Referent/Betreuer | Gerthsen, D. |