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Application of a modern scanning electron microscope for materials characterization

Sun, Cheng

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000100797
Veröffentlicht am 12.12.2019
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000100797
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang 174 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Prüfungsdatum 18.10.2019
Referent/Betreuer Prof. D. Gerthsen
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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