KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Void-And-Cluster Sampling of Large Scattered Data and Trajectories

Rapp, Tobias; Peters, Christoph; Dachsbacher, Carsten

Open Access Logo


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1077-2626, 1941-0506, 2160-9306
KITopen-ID: 1000104740
Erschienen in IEEE transactions on visualization and computer graphics
Band 26
Heft 1
Seiten 780-789
Nachgewiesen in Web of Science
Scopus
Relationen in KITopen
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page