Void-And-Cluster Sampling of Large Scattered Data and Trajectories
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1077-2626, 1941-0506, 2160-9306 KITopen-ID: 1000104740 |
| Erschienen in | IEEE transactions on visualization and computer graphics |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 26 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 780-789 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |
| Relationen in KITopen |