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Remote Attacks on FPGA Hardware

Gnad, Dennis Rolf Engelbert

Abstract:
Immer mehr Computersysteme sind weltweit miteinander verbunden und über das Internet zugänglich, was auch die Sicherheitsanforderungen an diese erhöht. Eine neuere Technologie, die zunehmend als Rechenbeschleuniger sowohl für eingebettete Systeme als auch in der Cloud verwendet wird, sind Field-Programmable Gate Arrays (FPGAs). Sie sind sehr flexible Mikrochips, die per Software konfiguriert und programmiert werden können, um beliebige digitale Schaltungen zu implementieren. Wie auch andere integrierte Schaltkreise basieren FPGAs auf modernen Halbleitertechnologien, die von Fertigungstoleranzen und verschiedenen Laufzeitschwankungen betroffen sind. ... mehr

Abstract (englisch):
An increasing amount of computer systems are connected on a global scale and become remotely accessible, increasing their requirements for security. One recent technology that is increasingly used as a computing accelerator, both for embedded systems and in the cloud, are Field-Programmable Gate Arrays (FPGAs). They are very flexible devices that can be configured and programmed by software, to implement arbitrary digital circuits. Like other integrated circuits, FPGAs are based on modern semiconductor technologies that are affected by variations in the manufacturing process and runtime conditions. ... mehr

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000123237
Veröffentlicht am 11.09.2020
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 11.09.2020
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000123237
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang xvi, 172 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Institut für Technische Informatik (ITEC)
Prüfungsdatum 15.05.2020
Referent/Betreuer Prof. M. B. Tahoori
Schlagwörter fpga, remote attacks, side-channel analysis, fault attacks, hardware security, microcontroller, analog-digital-converter, time-to-digital converter, delay line, on-chip measurement, voltage fluctuations, pvt
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