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Breitbandige Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-Messtechnik

Boes, Florian Klaus

Abstract:
In dieser Arbeit wird der neuartige Einsatz von breitbandigen kontinuierlichen Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-On-Wafer-Messtechnik vorgestellt. Die Frequenzweichen können in On-Wafer-Messspitzen integriert werden, um so den parallelen Einsatz von Messtechnik für unterschiedliche Frequenzbereiche zu ermöglichen. Ziel ist die nachhaltige und kostengünstige Erweiterung bestehender On-Wafer-Messtechnik zum Erfassen eines größeren Frequenzbereiches bei einmaliger Kontaktierung des Messobjektes, ohne dabei die On-Wafer-Messspitzen und die sensible Messtechnik für unterschiedliche Frequenzbänder austauschen, warm laufen lassen und erneut kalibrieren zu müssen.

Anhand skalierter Prototypen wird eine modellbasierte Methode für den Entwurf breitbandiger kontinuierlicher Frequenzweichen mit Stepped-Impedance-Tiefpassfiltern und Bandpassfiltern aus gekoppelten Leitungsresonatoren im Detail beschrieben. Das methodische Vorgehen mit Modellierungen der Filterstrukturen ermöglicht einen effizienten Entwurf und die Optimierung breitbandiger kontinuierlicher Frequenzweichen mit einer Vielzahl an einstellbaren Parametern, bei der Optimierungen in elektromagnetischen Feldsimulationen nicht mehr zielführend sind. ... mehr

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000123994
Veröffentlicht am 29.09.2020
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 29.09.2020
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000123994
Verlag Karlsruhe
Umfang XIII, 183 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT)
Institut Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Prüfungsdatum 24.09.2020
Referent/Betreuer Prof. T. Zwick
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