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Breitbandige Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-Messtechnik

Boes, Florian Klaus

Abstract:

Diese Arbeit beschreibt den neuartigen Einsatz von breitbandigen kontinuierlichen Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-On-Wafer-Messtechnik durch die Integration in On-Wafer-Messspitzen. Eine modellbasierte Methode für den effizienten Entwurf von Frequenzweichen mit einer Vielzahl einstellbarer Parameter ermöglicht die erstmalige Realisierung einer DC – 110 GHz – 170 GHz Frequenzweiche.

Abstract (englisch):

This work describes the novel use of broadband continuous diplexers that could be integrated into on-wafer probes to parallize millimeter wave on-wafer measurement equipment. A model-based method for the efficient design of diplexers with a large number of adjustable parameters allows the realization of a DC – 110 GHz – 170 GHz diplexer for the first time.

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2021
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-1078-9
ISSN: 1868-4696
KITopen-ID: 1000128278
Verlag KIT Scientific Publishing
Umfang XIII, 183 S.
Serie Karlsruher Forschungsberichte aus dem Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik ; 97
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT)
Institut Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Prüfungsdaten 24.09.2020
Prüfungsdatum 24.09.2020
Schlagwörter Frequenzweiche, Diplexer, Multiplexer, Filter, Millimeterwellen-Filter, diplexer, multiplexer, filter, millimeter-wave filter
Nachgewiesen in OpenAlex
Relationen in KITopen
Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung Ziel 7 – Bezahlbare und saubere Energie
Referent/Betreuer Zwick, T.

Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000128278
Veröffentlicht am 21.05.2021
Seitenaufrufe: 183
seit 21.05.2021
Downloads: 85
seit 21.05.2021
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Cover der Publikation
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