Breitbandige Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-Messtechnik
Abstract:
Diese Arbeit beschreibt den neuartigen Einsatz von breitbandigen kontinuierlichen Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-On-Wafer-Messtechnik durch die Integration in On-Wafer-Messspitzen. Eine modellbasierte Methode für den effizienten Entwurf von Frequenzweichen mit einer Vielzahl einstellbarer Parameter ermöglicht die erstmalige Realisierung einer DC – 110 GHz – 170 GHz Frequenzweiche.
Abstract (englisch):
This work describes the novel use of broadband continuous diplexers that could be integrated into on-wafer probes to parallize millimeter wave on-wafer measurement equipment. A model-based method for the efficient design of diplexers with a large number of adjustable parameters allows the realization of a DC – 110 GHz – 170 GHz diplexer for the first time.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2021 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-7315-1078-9 ISSN: 1868-4696 KITopen-ID: 1000128278 |
| Verlag | KIT Scientific Publishing |
| Umfang | XIII, 183 S. |
| Serie | Karlsruher Forschungsberichte aus dem Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik ; 97 |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT) |
| Institut | Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE) |
| Prüfungsdaten | 24.09.2020 |
| Prüfungsdatum | 24.09.2020 |
| Schlagwörter | Frequenzweiche, Diplexer, Multiplexer, Filter, Millimeterwellen-Filter, diplexer, multiplexer, filter, millimeter-wave filter |
| Relationen in KITopen | |
| Referent/Betreuer | Zwick, T. |