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OCM 2021 - Optical Characterization of Materials : Conference Proceedings

Beyerer, Jürgen [Hrsg.]; Längle, Thomas [Hrsg.]

Abstract:
The state of the art in the optical characterization of materials is advancing rapidly. New insights have been gained into the theoretical foundations of this research and exciting developments have been made in practice, driven by new applications and innovative sensor technologies that are constantly evolving.
The great success of past conferences proves the necessity of a platform for presentation, discussion and evaluation of the latest research results in this interdisciplinary field.

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Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/KSP/1000128686
Veröffentlicht am 26.02.2021
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT)
Institut für Anthropomatik (IFA)
Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR)
Publikationstyp Proceedingsband
Publikationsjahr 2021
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-1081-9
KITopen-ID: 1000128686
Verlag KIT Scientific Publishing
Umfang VII, 197 S.
Schlagwörter Charakterisierung von Materialien, Hyperspektral, multispektrale Bildanalyse, Röntgenmethoden, Recycling, characterisation of materials, hyperspectral, multispectral image analysis, X-ray methods, recycling
Relationen in KITopen
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