Development of a Measuring System for Microwave Dielectric Properties at 2.45 GHz

Regier, M.; Fritz, P.; Schubert, H.

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Bio- und Lebensmitteltechnik (BLT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr	06.2001
Sprache	Deutsch
Identifikator	ISSN: 0009-286X, 1522-2640 KITopen-ID: 1000132516
Erschienen in	Chemie - Ingenieur - Technik
Verlag	Wiley-VCH Verlag
Band	73
Heft	6
Seiten	698–699
Nachgewiesen in	Dimensions OpenAlex
Relationen in KITopen	Verweist auf Development of a measuring system for microwave dielectric properties at 2.45 GHz. Regier, Marc; Fritz, Peter; Schubert, Helmar (2001) Proceedingsbeitrag (1000132521)

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/1522-2640(200106)73:6<698::AID-CITE6983333>3.0.CO;2-D

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