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Development of a Measuring System for Microwave Dielectric Properties at 2.45 GHz

Regier, M.; Fritz, P.; Schubert, H.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/1522-2640(200106)73:6<698::AID-CITE6983333>3.0.CO;2-D
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Bio- und Lebensmitteltechnik (BLT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 06.2001
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0009-286X, 1522-2640
KITopen-ID: 1000132516
Erschienen in Chemie - Ingenieur - Technik
Verlag Wiley-VCH Verlag
Band 73
Heft 6
Seiten 698–699
Relationen in KITopen
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