Material Contrast by Scanning Electron Microscopy and Low-Energy Scanning Transmission Electron Microscopy
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsdatum | 08.06.2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000147675 |
| HGF-Programm | 43.35.01 (POF IV, LK 01) Platform for Correlative, In Situ & Operando Charakterizat. |
| Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
| Umfang | 165 S. |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Physik (PHYSIK) |
| Institut | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) |
| Prüfungsdatum | 29.04.2022 |
| Projektinformation | EXC 2082; 3DMM2O, 390761711 (DFG, DFG EXSTRAT, EXC 2082/1) |
| Referent/Betreuer | Gerthsen, Dagmar Kübel, Christian |