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Material Contrast by Scanning Electron Microscopy and Low-Energy Scanning Transmission Electron Microscopy

Calkovsky, Martin 1
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000147675
Veröffentlicht am 08.06.2022
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 08.06.2022
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000147675
HGF-Programm 43.35.01 (POF IV, LK 01) Platform for Correlative, In Situ & Operando Charakterizat.
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang 165 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Prüfungsdatum 29.04.2022
Projektinformation EXC 2082; 3DMM2O (DFG, DFG EXSTRAT, EXC 2082/1)
Referent/Betreuer Gerthsen, Dagmar
Kübel, Christian
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