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Fourier transform of surface–carried measures of two-dimensional generic surfaces and applications

Cuenin, Jean-Claude ; Schippa, Robert 1
1 Institut für Analysis (IANA), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.3934/cpaa.2022079
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Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Analysis (IANA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2022
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1534-0392, 1553-5258
KITopen-ID: 1000148510
Erschienen in Communications on Pure and Applied Analysis
Verlag American Institute of Mathematical Sciences (AIMS)
Band 21
Heft 9
Seiten 2873-2889
Nachgewiesen in Dimensions
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