KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Process Segmented based Intelligent Anomaly Detection in Highly Flexible Production Machines under Low Machine Data Availability

Netzer, Markus 1; Bach, Jannik 1; Puchta, Alexander 1; Gönnheimer, Philipp 1; Fleischer, Jürgen 1
1 Institut für Produktionstechnik (WBK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000149263
Veröffentlicht am 03.08.2022
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.procir.2022.05.040
Scopus
Zitationen: 4
Dimensions
Zitationen: 3
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 06.2022
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2212-8271
KITopen-ID: 1000149263
Erschienen in Procedia CIRP
Verlag Elsevier
Band 107
Seiten 647–652
Bemerkung zur Veröffentlichung 55th CIRP Conference on Manufacturing Systems
Nachgewiesen in Dimensions
Scopus
OpenAlex
Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung Ziel 7 – Bezahlbare und saubere Energie
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page