| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsdatum | 24.08.2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000151442 |
| HGF-Programm | 43.31.02 (POF IV, LK 01) Devices and Applications |
| Veranstaltung | 33rd European Crystallographic Meeting (ECM 2022), Versailles, Frankreich, 23.08.2022 – 27.08.2022 |
| Schlagwörter | Deep Learning, Neural Networks, X-ray Diffraction, Spectroscopy |