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Discriminative feature learning through feature distance loss

Schlagenhauf, Tobias 1; Lin, Yiwen 1; Noack, Benjamin
1 Institut für Produktionstechnik (WBK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000155945
Veröffentlicht am 20.03.2023
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s00138-023-01379-1
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Zitationen: 2
Dimensions
Zitationen: 1
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 03.2023
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0932-8092, 1432-1769
KITopen-ID: 1000155945
Erschienen in Machine Vision and Applications
Verlag Springer
Band 34
Heft 2
Seiten Art.-Nr.: 25
Vorab online veröffentlicht am 07.02.2023
Nachgewiesen in Dimensions
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