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Light Field Imaging for Deflectometry

Uhlig, David ORCID iD icon 1
1 Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Abstract:

Optische Messverfahren werden für die hochpräzise Fertigung von Bauteilen und für die Qualitätssicherung immer wichtiger. Der steigende Bedarf kann durch moderne bildgebende Systeme mit fortschrittlichen Optiken gedeckt werden. Insbesondere Lichtfeldkameras erfahren ein immer größeres Interesse in Forschung und Industrie, da sie trotz ihres kompakten und monokularen Designs eine Vielzahl von neuen Messprinzipien ermöglichen. Sie werden jedoch hauptsächlich für die Vermessung diffus reflektierender Szenen verwendet. Für die Analyse spiegelnd reflektierender Oberflächen haben sich die deflektometrischen Messverfahren durchgesetzt. ... mehr

Abstract (englisch):

Optical measurement methods are becoming increasingly important for the high-precision production of components and for quality assurance. The increasing demand can be met by modern imaging systems with advanced optics. In particular, light-field cameras are experiencing an increasing interest in research and industry, as they enable a variety of new measurement principles despite their compact and monocular design. However, they are mainly used for surveying diffusely reflecting scenes. For the analysis of specular reflecting surfaces, deflectometric measurement methods have become widely accepted. ... mehr


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000156025
Veröffentlicht am 16.02.2023
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 16.02.2023
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000156025
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang xi, 256 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT)
Institut Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Prüfungsdatum 18.11.2022
Schlagwörter light field camera, deflectometry, camera calibration, generic calibration, phase-shift coding, phase unwrapping, surface reconstruction, specular surfaces
Relationen in KITopen
Referent/Betreuer Heizmann, Michael
Tutsch, Rainer
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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