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Light Field Imaging for Deflectometry

Uhlig, David ORCID iD icon 1
1 Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Abstract (englisch):

Optical measurement methods are becoming increasingly important for high-precision production of components and quality assurance. The increasing demand can be met by modern imaging systems with advanced optics, such as light field cameras. This work explores their use in the deflectometric measurement of specular surfaces. It presents improvements in phase unwrapping and calibration techniques, enabling high surface reconstruction accuracies using only a single monocular light field camera.


Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000159372
Veröffentlicht am 18.08.2023
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2023
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-1306-3
ISSN: 2190-6629
KITopen-ID: 1000159372
Umfang XI, 256 S.
Serie Forschungsberichte aus der Industriellen Informationstechnik / Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT), Karlsruher Institut für Technologie ; 31
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT)
Institut Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Prüfungsdaten 18.11.2022
Prüfungsdatum 18.11.2022
Schlagwörter Lichtfeldkamera, Deflektometrie, Kamerakalibrierung, Phasenentfaltung, Oberflächenrekonstruktion, , light field camera, deflectometry, camera calibration, phase unwrapping, surface reconstruction
Relationen in KITopen
Referent/Betreuer Heizmann, Michael
Tutsch, Rainer
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